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光纖光纜技術標準最新進展

經過多年的發展,光纖光纜領域的技術標準已經逐步形成了一套相對穩定的標準體係。其中ITU-T的G.65x係列建議書,IEC的60793和63794係列標準,GB/T 9771、GB/T 15972、GB/T 12357等係列國家標準,以及以行業標準為主的一係列光纜標準等,為光纖光纜AG亚游集团的生產、工程建設和進出口檢驗提供了先進、統一的技術規範,提高了整個行業的標準化、規範化程度。



隨著近年來光纖光纜技術的進一步發展,部分標準的技術細節也在隨之更新和修訂,以更加適應市場的需要。本文主要介紹了2009年以來在光纖光纜領域技術標準的最新進展情況,並針對最新的修訂內容進行了詳細解釋。



1 光纖技術標準進展



1.1 ITU-T光纖技術標準進展



1.1.1 ITU-T G.650.1



ITU-T G.650.1於2010年進行了修訂,其中主要的更新為以下幾點。



a)ITU-T G.650.1-2009第5.3節,刪除了跳線截止波長的測試方法。由於實際意義較小,單模光纖規範中均刪除了跳線截止波長的定義和指標要求。



b)ITU-T G.650.1-2009第5.3.1.3節,截止波長的測試步驟,對打圈參考法和多模參考法的使用進一步給予了詳細解釋。對於打圈參考法,所打圈的半徑應該在測試之前予以確定。圈的半徑應足夠小,以濾除次高階模式,卻不應太小,以至於引起長波長處的宏彎損耗。對於G.652~G.656光纖來說,典型的打圈半徑為10~30 mm,但對於某些G.657光纖,圈的半徑可能要求更小。對於一些G.657光纖,由於其優異的抗彎曲特性,使用打圈參考法測試截止波長可能並不適合,這種情況下,推薦使用多模參考法進行測試。



c)ITU-T G.650.1-2009第5.6節,增加了宏彎損耗的測試方法。



1.1.2 ITU-T G.650.3



ITU-T G.650.3於2011年以增補文件的形式新增了資料性附錄三:“在已安裝的鏈路上區分宏彎點和熔接點的方法”,其主要原理是依據測試2個波長處的雙向OTDR曲線,對於某一個損耗事件點,根據2個波長處實測損耗值,計算宏彎因子,再通過宏彎因子判斷該處是否為異常宏彎點。由於G.657光纖的彎曲損耗一般很小,建議書中注明了此方法一般隻適用於G.652光纖。同時,在不清楚鏈路中使用的光纖類型時,此方法也不適用。



1.1.3 ITU-T G.652~G.656



G.652~G.656係列標準均在2009—2010年進行了更新,但實際的技術指標並沒有大的變化。



所有單模光纖係列的標準中,均刪除了跳線截止波長的相關內容。



1.1.4 ITU-T G.657



2009版的ITU-T G.657較上一版本變化較大,主要表現在對光纖分類上,由最早的G.657 A和G.657 B改為了G.657 A1、A2、B2、B3 4個子類。



2010年6月,ITU還發布了G.657建議書的增補文件,對資料性附錄一:“小彎曲半徑條件下光纖的壽命預測”進行了修訂。



另外,在2011年2月最近一次的ITU-T會議上,對G.657建議書的進一步發展進行了廣泛的討論。其中形成一致意見的是:在下一版本的ITU-T G.657建議書中,將B2和B3類光纖的MFD範圍變為與A1和A2一致,即刪除下限為6.3 μm的小模場光纖類型。其主要原因在於小模場的G.657光纖在實際應用中與G.652光纖的接續損耗較大,且現在市場上各廠商的主流AG亚游集团均為模場直徑與G.652光纖接近,而非小模場的光纖。此意見將在下一版本的修訂中繼續進行討論,現階段官方發布的正式建議書中仍維持了原分類原則。


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